Fluorescenza a raggi X (XRF)

L’impiego della fluorescenza a raggi X (XRF) nello studio delle opere d’arte si rivela uno strumento estremamente utile sotto diversi aspetti, in particolare, per le sue caratteristiche di assoluta non invasività e rapidità di risposta, che consentono di esaminare una certa quantità di aree di interesse
su una stessa opera, senza comprometterne in alcun modo la materia.

Questa tecnica, infatti, permette di conoscere la composizione elementare di un campione attraverso lo studio della radiazione di fluorescenza X, che ha caratteristiche diverse in funzione degli elementi chimici che compongono l’oggetto sotto indagine. La radiazione di fluorescenza X viene emessa dagli atomi del campione, irraggiando il campione stesso con un fascio di raggi X (simile a quello utilizzato per effettuare le normali radiografie), per cui è una tecnica completamente non invasiva. L’energia delle radiazioni emesse permette di riconoscere qualitativamente gli elementi chimici con numero atomico circa superiore al magnesio (quindi utile per i materiali inorganici), presenti nell’area irraggiata, che può variare di qualche millimetro di dimensione.

Un ausilio per poter orientare nel modo migliore l’analisi XRF è offerto sicuramente dalla radiografia, permettendo di ottenere eventuali informazioni utili a capire quali sono le aree potenzialmente più interessanti per l’analisi XRF stessa.

Spettrometro di fluorescenza a raggi